- [檢測百科]分享：使用飛行時間二次離子質譜法判定痕量氧元素的測試方法2024年11月18日 14:04
- 通過一次離子轟擊固體材料表面,使二次離子從試樣表面發(fā)射的方法叫作二次離子質譜（SIMS）法。飛行時間二次離子質譜（ToF-SIMS）法的原理是利用一次離子束濺射固體材料表面,得到二次離子,根據到達檢測器的時間推斷出二次離子的質荷比,從而得到試樣表面的成分信息[1]。ToF-SIMS是一種應用廣泛的固體表面分析技術,具有高質量分辨率和高空間分辨率,其檢測靈敏度很高,可以檢測到痕量級（質量分數約為0.000 1%）的雜質。
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- [檢測百科]電鏡掃描的性能簡介及意義2020年09月10日 14:48
- 信號收集及顯示系統(tǒng)：檢測樣品在入射電子作用下產生的物理信號，然后經視頻放大作為顯像系統(tǒng)的調制信號?，F在普遍使用的是電子檢測器，它由閃爍體，光導管和光電倍增器所組成。真空系統(tǒng)：真空系統(tǒng)的作用是為保證電子光學系統(tǒng)正常工作，防止樣品污染，一般情況下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。
- 閱讀（58） 標簽：金屬材料檢測|金相分析
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